টেকনিক্যাল ড্রাইভ গুডস। ওপেন লুপ বনাম ক্লোজ লুপ ডায়নামিক টেস্টিং: ড্রাইভ এজিং টেস্টিং এর মধ্যে পার্থক্য কত বড়?

ড্রাইভ কন্ট্রোল পণ্যের নির্ভরযোগ্যতা পরীক্ষার ক্ষেত্রে,ওপেন লুপ স্টেডিয়াম স্টেট টেস্টিং এবং ক্লোজ লুপ ডায়নামিক টেস্টিং দুটি সম্পূর্ণ ভিন্ন প্রজন্মের টেস্টিং টেকনোলজি সিস্টেমএগুলি উচ্চ-নির্ভুলতা প্রিমিয়াম পরীক্ষার থেকে নিম্ন থেকে মাঝারি-শেষ প্রচলিত পরীক্ষার পার্থক্য করার মূল মানদণ্ড হিসাবেও কাজ করে।অনেক উদ্যোগ এখনও ঐতিহ্যগত ওপেন লুপ পরীক্ষার সরঞ্জাম উপর নির্ভর করে, যার ফলে নির্ভরযোগ্যতা পরীক্ষার নির্ভুলতা অপর্যাপ্ত এবং ড্রাইভ পণ্যগুলির জন্য আনুষ্ঠানিক মান নিয়ন্ত্রণ।

1. গতিশীল সিমুলেশন ছাড়াই স্থির কাজের শর্তঐতিহ্যগত ওপেন-লুপ সরঞ্জাম শুধুমাত্র ধ্রুবক ভোল্টেজ, বর্তমান এবং শক্তি আউটপুট। এটি ধাপহীন লোড সমন্বয়, এলোমেলো লোড সিমুলেশন বা শিখর প্রভাব পুনরুত্পাদন সমর্থন করে না,বাস্তব শিল্পের দৃশ্যকল্পের জটিল কাজের শর্ত পুনরুদ্ধার করা অসম্ভব করে তোলে.
2. ধীর প্রতিক্রিয়া এবং কম পরীক্ষার নির্ভুলতাওপেন-লুপ সিস্টেমগুলি ধীর লোড সুইচিং গতির বৈশিষ্ট্যযুক্ত। শর্ত সুইচিংয়ের সময় সুস্পষ্ট পাওয়ার ফ্লাকুয়েশন এবং সংখ্যাসূচক বিচ্যুতি ঘটে,যা পরীক্ষার ক্ষেত্রে বড় ধরনের ভুল সৃষ্টি করে এবং উচ্চমানের ড্রাইভিং পণ্যগুলির নির্ভুলতার প্রয়োজনীয়তা পূরণ করতে ব্যর্থ হয়.
3. অসম্পূর্ণ তথ্য সংগ্রহএই ধরনের ডিভাইসগুলি কেবলমাত্র মৌলিক গড় তথ্য সংগ্রহ করে এবং মৌলিক লুকানো পরামিতিগুলি যেমন অস্থায়ী ক্ষতি, ডিভাইসের তাপমাত্রা ওঠানামা এবং রিপল ভেরিয়েশন ক্যাপচার করতে পারে না।এটি ব্যাপক পরীক্ষার অন্ধ দাগ সৃষ্টি করে.

1. অতি-দ্রুত গতিশীল প্রতিক্রিয়াএটি 1 এমএসের মধ্যে বিরামবিহীন লোড স্যুইচিং অর্জন করে, সম্পূর্ণরূপে প্রতিক্রিয়া বিলম্ব, পাওয়ার ফ্লাকুয়েশন এবং কাজের অবস্থার বিচ্যুতি দূর করে, উচ্চ-ফ্রিকোয়েন্সি গতিশীল অবস্থার পরীক্ষার জন্য সম্পূর্ণরূপে অভিযোজিত।
2. পূর্ণ-সিনারিও কাজের শর্ত সিমুলেশনএটি শত শত নমনীয় কাস্টমাইজড কাজের অবস্থার সমর্থন করে, যার মধ্যে রয়েছে র্যান্ডম লোড, পলস ফ্লাকুয়েশন, দীর্ঘ সময়ের পাওয়ার সাইক্লিং এবং ধাপে ধাপে লোড বৈচিত্র্য,সার্ভো ড্রাইভ এবং ইন্ডাস্ট্রিয়াল মোশন কন্ট্রোলারগুলির প্রকৃত অপারেটিং অবস্থা সঠিকভাবে পুনরুদ্ধার করা.
3. বহুমাত্রিক উচ্চ নির্ভুলতার তথ্য সংগ্রহসিস্টেমটি মিলিসেকেন্ডের স্তরে ভোল্টেজ, বর্তমান, ডিভাইসের তাপমাত্রা বৃদ্ধি, রিপল এবং সামগ্রিক দক্ষতা সহ মূল পরামিতিগুলি সিঙ্ক্রোনাসভাবে সংগ্রহ করে।এবং স্বয়ংক্রিয়ভাবে দৃশ্যমান ক্ষতি কার্ভ স্বজ্ঞাতভাবে ক্ষতি মান প্রদর্শন করতে উত্পন্ন, ওঠানামা প্রবণতা এবং কর্মক্ষমতা হ্রাস।
4. ট্র্যাকযোগ্য এবং ব্যবহারযোগ্য পরীক্ষার তথ্যসমস্ত পরীক্ষার ডেটা ক্লাউড-আর্কাইভ করা হয় এবং এক ক্লিকের মাধ্যমে স্ট্যান্ডার্ড রিপোর্ট হিসাবে রপ্তানি করা যেতে পারে।এটি সার্কিট টপোলজির গবেষণা ও উন্নয়ন অপ্টিমাইজেশনের জন্য সঠিক ডেটা সমর্থন প্রদান করে, পাওয়ার ডিভাইস নির্বাচন এবং নিয়ন্ত্রণ লজিক পুনরাবৃত্তি।

ড্রাইভ কন্ট্রোল পণ্যগুলির ক্রমাগত পারফরম্যান্স আপগ্রেড এবং আন্তর্জাতিক নির্ভরযোগ্যতা শংসাপত্রের মান উন্নত করার সাথে সাথে,ঐতিহ্যগত ওপেন-লুপ টেস্টিং প্রযুক্তি পুরানো হয়ে গেছেক্লোজড লুপ ডাইনামিক ভিজ্যুয়ালাইজড টেস্টিং উচ্চ মানের ভর উৎপাদন ড্রাইভ নিয়ন্ত্রণ পণ্য জন্য শিল্প মান হয়ে উঠেছে।